描述
CC-TDIL51
它们彼此间以一串行的数值信号来组成所要传递的资料,使得多样化的资料能够借由一组通讯线路来达成.4~20mA算是通用规格.另外常见的还有0~20mA.另外还有电压式的:0~5V,1~5V,0~10V,等等.当然还有以其他形式来表达自然环境中各种”连续性”数值的方式,像是:电阻式,以及其他变化应用.总之呢,4~20mA的规格最多.但是,事实上,4~20mA的电流信号,在进入电路板时,还是会串上一个250或500欧姆的电阻,而获得一个1~5V或2~10V的电压,然后再由A/D(类比/数位)转换IC得到一个对应的数值.这个”5V”或”10V”的原因,乃是人们研发出来的A/DIC最容易且廉价的关系而已.至于为何以电流的方式较多,因为4~20mA控制电流不易因传送距离较长而导致讯号衰减。
电子产品在生产制造时，因设计不合理、原材料或工艺措施方面的原因引起产品的质量问题有两类，第一类是产品的性能参数不达标，生产的产品不符合使用要求；第二类是潜在的缺陷，这类缺陷不能用一般的测试手段发现，而需要在使用过程中逐渐地被暴露，如硅片表面污染、组织不稳定、焊接空洞、芯片和管壳热阻匹配不良等等。一般这种缺陷需要在元器件工作于额定功率和正常工作温度下运行一千个小时左右才能全部被激活（暴露）。显然，对每只元器件测试一千个小时是不现实的，所以需要对其施加热应力和偏压，例如进行高温功率应力试验，来加速这类缺陷的提早暴露。也就是给电子产品施加热的、电的、机械的或多种综合的外部应力，模拟严酷工作环境，消除加工应力和残余溶剂等物质，使潜伏故障提前出现，尽快使产品通过失效浴盆特性初期阶段，进入高可靠的稳定期。
A51532 Asymtek Millennium Series Dispensing System, 600
C56237 Zevatech CT-3000 Pick and Place Machine
G54212 Asymtek A-618C Millennium Dispensing System
G66395 Hitachi S-2300 Scanning Electron Microscope
G54295 Asymtek Dispensing System
G75521 TA Inst. TGA2050 Thermogravimetr?ic Analyzer
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A70055 Thermo Nicolet Nexus 470 FT-IR, Centaurus Scope
A69734 LC Packings Famos, Switchos, Ultimate HPLC Sys
AE43005 Synax SX-141 Pick and Place Wafer Handler
AN43004 Alessi 6″ Prober XYZ w/ Microscope, Extras
A58421 Wentworth Labs 8″ Prober MM2004 (0-043-0001)
C69531 Rudolph AutoEL III 2B 4A Automatic Ellipsometer
C69866 K&S 4129 Vertical Feed Wedge Bonder w/Heated Tip
A73561 Cincinnati Test Systems Sentinel M24 Leak Test
C57559 Tokyo Seimitsu TSK A-WD-4000A Wafer Dicing Saw
A74058 Yamato Ohkawara DL-41 Spray Dryer
L66981 Disco Corp Automatic Dicing Saw DAD-3D/8
C71085 Gaertner Scientific Corp. L115 S Ellipsometer
C70347 Solid State Measurements CV Test Analysis System
C69865 K&S 4124 Gold Ball Wire Bonder w/ LWD Microscope
C69864 K&S 4124 Gold Ball Wire Bonder w/Negative E.F.O.
C69692 K&S 4124 Thermosonic Gold Ball Wire Bonder
C28990 Orthodyne 20R Wire Bonder w/Nikon SMZ-1 Scope
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